Az Egyesült Államok Energiaügyi Minisztériuma (DOE) nemrégiben tette közzé harmadik megbízhatósági jelentését a LED-illesztőprogramokról, amelyek hosszú távú gyorsított élettartam-teszteken alapulnak. Az Egyesült Államok Energiaügyi Minisztériumának szilárdtest-világítási (SSL) kutatói úgy vélik, hogy a legújabb eredmények megerősítik az Accelerated Pressure Test (AST) módszer kiváló teljesítményét különféle zord körülmények között. Ezenkívül a teszteredmények és a mért hibatényezők tájékoztathatják az illesztőprogram-fejlesztőket a megbízhatóság további javítását célzó releváns stratégiákról.

Mint ismeretes, a LED-meghajtók, mint plmaguk a LED alkatrészek, kulcsfontosságúak az optimális fényminőség szempontjából. A megfelelő meghajtó-kialakítás kiküszöbölheti a villogást és egyenletes világítást biztosít. És az illesztőprogram is a legvalószínűbb alkatrészLED lámpákvagy világítótestek hibás működését. Miután felismerte a meghajtók fontosságát, a DOE 2017-ben elindított egy hosszú távú meghajtótesztelési projektet. Ez a projekt egycsatornás és többcsatornás meghajtókat foglal magában, amelyek felhasználhatók olyan eszközök rögzítésére, mint például a mennyezeti hornyok.

Az Egyesült Államok Energiaügyi Minisztériuma korábban két jelentést adott ki a tesztelési folyamatról és az előrehaladásról, most pedig ez a harmadik vizsgálati adatjelentés, amely az AST körülmények között 6000-7500 órán keresztül végzett terméktesztelési eredményeket tartalmazza.

Valójában az iparnak nincs annyi ideje, hogy sok éven át tesztelje a vezetéseket normál működési környezetben. Éppen ellenkezőleg, az Egyesült Államok Energiaügyi Minisztériuma és alvállalkozója, az RTI International tesztelte a hajtást az úgynevezett 7575-ös környezetben – mind a beltéri páratartalom, mind a hőmérséklet folyamatosan 75 °C-on van tartva. Ez a teszt a vezetői tesztelés két szakaszából áll, függetlenül a csatorna. Az egyfokozatú kialakítás kevesebbe kerül, de hiányzik belőle egy külön áramkör, amely először a váltakozó áramot egyenárammá alakítja, majd szabályozza az áramerősséget, ami a kétfokozatú kialakításra jellemző.

Az Egyesült Államok Energiaügyi Minisztériuma arról számolt be, hogy a 11 különböző meghajtón végzett tesztek során az összes meghajtót 7575-ös környezetben 1000 órán keresztül működtették. Ha a hajtás környezeti helyiségben van elhelyezve, a hajtáshoz csatlakoztatott LED terhelés kültéri környezeti feltételek mellett helyezkedik el, így az AST környezet csak a hajtást érinti. A DOE nem társította az AST-körülmények közötti működési időt a normál környezeti üzemidővel. Az első köteg készülék 1250 üzemóra után meghibásodott, bár néhány eszköz még mindig működik. 4800 órás tesztelés után az eszközök 64%-a meghibásodott. Ennek ellenére a kemény tesztelési környezetet figyelembe véve ezek az eredmények már nagyon jók.

A kutatók azt találták, hogy a legtöbb hiba a meghajtó első szakaszában fordul elő, különösen a teljesítménytényező-korrekciós (PFC) és az elektromágneses interferencia (EMI) elnyomó áramkörökben. A meghajtó mindkét szakaszában a MOSFET-eknek is vannak hibái. Amellett, hogy olyan területeket határoz meg, mint például a PFC és a MOSFET, amelyek javíthatják az illesztőprogram tervezését, ez az AST azt is jelzi, hogy a hibák általában előre jelezhetők az illesztőprogram teljesítményének figyelése alapján. Például a teljesítménytényező és a túlfeszültség figyelése előre észlelheti a korai hibákat. A villogás növekedése azt is jelzi, hogy meghibásodás hamarosan bekövetkezik.

A DOE SSL programja hosszú ideje fontos teszteléseket és kutatásokat végez az SSL területén, beleértve a Gateway-t is.